Přístroje

M6

Zcela nový M6 firmy ION-TOF
SIMS technologie o jeden krok vpřed

M6 je poslední generací TOF-SIMS přístrojů (Time-Off-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) vyvinutou firmou ION-TOF. Konstrukce zaručuje špičkové výsledky ve všech aplikacích SIMS. Zcela nový druh iontového svazku a technologie hmotového analyzátoru tvoří z M6 referenční značku přístrojů SIMS a ideální nástroj pro průmyslový a akademický výzkum. 

Aplikace:   https://www.iontof.com/applications-tof-sims-leis-spm.html

Nový TOF analyzátor
Revolučně nová konstrukce extrakční optiky, transferu iontů a detekčního systému poskytuje dosažení nové úrovně hmotového rozlišení, přesnosti stanovení hmoty a transmise

TOF MS/MS
Ve variantě M6 s ToF MS/MS se nabízí ekonomické řešení MS/MS s CID fragmentací pro určení molekulární struktury.  Ideálně vhodné pro rychlou konfirmaci předpokládaných kontaminantů nebo složení a pro rychlé MS/MS zobrazování lze použít pro aplikace hloubkového profilování.

Nanoprobe 50 - Benchmark in ion beam technology
Poslední generace Bi zdroje dosahuje nejvyšších proudů svazku a garantované špičkové laterální rozlišení 50 nm.

Hloubkové profilování duálním svazkem
Pro vrstvy od několika nm až do několika µm se doplňuje vysokovýkonné iontové dělo pro odprašování pomocí O2 a Cs.

Focused Ion Beam (FIB)
Rozšíření o FIB uživateli dovoluje překomat omezení klasického hloubkového profilování i pro velmi drsné a porézní vzorky kombinací FIB s vysokým laterálním rozlišením ToF-SIMS zobrazování.

Další technické novinky:
Hmotové rozlišení > 30,000,
Nesrovnatelný dynamický rozsah a detekční limity,
Nový systém ohřevu a ochlazování vzorku se snadným ovládáním pro dlouhodobý provoz bez zásahu obsluhy,
Sofistikovaný software SurfaceLab 7 s plnou integrací multivariantní statistické analýzy  (MVSA)

stránky výrobce 

M6 Hybridní SIMS

Vysoce výkonný TOF-SIMS v kombinaci se SIMS Orbitrap je přístroj ideálně vhodný pro organické vzorky

stránky výrobce

M6 Plus

Platforma špičkového SIMS typu M6  je kombinována s vysokovakuovým SPM (Scanning Probe Microscope)

stránky výrobce

Qtac

Povrchově extrémně citlivý přístroj metodou LEIS ( Low Energy Ion Scattering) poskytující unikátní a kvantitativní analýzu svrchní atomární vrstvy. Možnost integrace do ALD a MBE systémů.

stránky výrobce

TOF-SIMS 5

V provozu prověřený a ekonomicky efektivní SIMS přístroj parametry stále překonávající řadu soupeřů

stránky výrobce

VLS-80

Vysokovakuový SPM vyráběný divizí NanoScan ve Švýcarsku, s možností analýzy i ve vzduchu

parametricky: skaner v uzavřené smyčce X/Y 80 µm, Z 10 µm, 20-bitový kontroler stolku skaneru s rozlišením pod 1 nm, stolek pro vzorek 100x 100 x 15 mm3, 4-kvadrantový detekční systém pro ohyb kantileveru, kompatibilita se všemi komerčními kantilevery, až 2 nezávislá PLL,  proměnlivé kolmé a rovinné mag. pole až 550 +/-mT,  3 úrovně pasivní antivibrační ochrany
option: aktivní ochrana

režimy: kontaktní, nekontaktní, LFM, tapping, MFM, EFM, KPM, amplidová a fázová modulace, FDM, surface profiler

stránky výrobce