Přístroje

Příprava materiálů pomocí iontového svazku

Iontové odprašování pevných materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy Leica EM TIC 3X

Pro dosáhnutí vysoké kvality řezů tvrdých materiálů bez deformací povrchu pozorované plochy slouží Leica EM TIC 3X. Systém s trojicí iontových děl je určen k přípravě tvrdých, porézních, teplocitlivých, křehkých nebo různorodých materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy (EDS, WDS, Auger, EBSD). Unikátní systém s trojicí iontových děl umožňuje zkrátit dobu přípravy vzorku a dosáhnout hlouběji do vzorku. Přístroj lze nakonfigurovat pomocí velkého množství držáků vzorků přesně dle požadavků dané aplikace. Systém dále umožňuje kontrastování a použití chlazeného stolku.         

Specifikace Leica EM TIC 3X:

  • Velmi velká oblast a rychlost odprašování
  • Urychlovací napětí 1 – 10 kV
  • Životnost iontových zdrojů 350 hodin
  • Bez nutnosti kalibrování iontových zdrojů
  • Vhodné pro široké spektrum materiálů a vhodné pro analýzy EDS, WDS, Auger, EBSD
  • Bez nutnosti předchozího mechanického leštění
  • Držák vzorků až 50x50x10mm
  • Možnost kontrastování vzorku
  • Chlazený stolek, teplota masky až -150°C
  • Možnost karuselového stolku pro více vzorků
  • Procesorem řízená automatická funkce
  • Možnost nastavení každého iontového zdroje samostatně
  • Vysokorozlišovací stereomikroskop s možností kamery
  • LED osvětlení
  • Integrovaná membránová a turbomolekulární pumpa
  • Možnost připojení kryotransportu VCT100

stránky výrobce

Příprava vzorků pro TEM, SEM i Světelnou mikroskopii Iontovým odprašováním Leica EM RES102

Leica EM RES102 je unikátní systém umožňující přípravu vzorků pro TEM, SEM i Světelnou mikroskopii v jednom přístroji. Slouží k ztenčování, čištění vzorků z FIB, leštění a řezání vzorků bez vytváření artefaktů na jeho povrchu. Rozmanitost držáků vzorků umožňuje použít systém v širokém spektru aplikací. Vysokoenergetická iontová děla lze také použít k jemnému opracování vzorků za použití nízkých energií. Plně automatizovaný systém vytváří kvalitní a reprodukovatelné výsledky. Teplocitlivé vzorky lze chladit pro zachování jejich integrity. Pro snadné používání systém obsahuje integrovanou knižnici aplikací a řadu videí pro pomoc s pravidelnou údržbou a obsluhou.   

Specifikace Leica EM RES102:

  • Univerzální zařízení pro ztenčování, leštění, řezání, čištění vzorků z FIB pro SEM a TEM aplikace
  • Integrovaná membránová a turbomolekulární vývěva pro dosažení vysokého vakua
  • Load lock systém pro rychlou výměnu vzorku se zachováním vakua
  • Variabilní energie iontových děl
  • Opracování vzorku v úhlu od 0° do 90°
  • Plně počítačově kontrolovaný systém se vzdáleným ovládáním pomocí LAN
  • Dotykový display
  • Plně motorizovaná iontová děla
  • Velká oblast opracování pro SEM
  • Motorizované čištění vzorků z FIB
  • Možnost vytváření a ukládání protokolů přípravy vzorku
  • Automatické zastavení procesu až dosáhne vzorek pro TEM elektronové transparentnosti
  • Integrované videa s návodem
  • Integrovaná CMOS kamera s manuálním zoomem

stránky výrobce

Naši dodavatelé:

© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika   |   Napsali o nás