Pro dosáhnutí vysoké kvality řezů tvrdých materiálů bez deformací povrchu pozorované plochy slouží Leica EM TIC 3X. Systém s trojicí iontových děl je určen k přípravě tvrdých, porézních, teplocitlivých, křehkých nebo různorodých materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy (EDS, WDS, Auger, EBSD). Unikátní systém s trojicí iontových děl umožňuje zkrátit dobu přípravy vzorku a dosáhnout hlouběji do vzorku. Přístroj lze nakonfigurovat pomocí velkého množství držáků vzorků přesně dle požadavků dané aplikace. Systém dále umožňuje kontrastování a použití chlazeného stolku.
Specifikace Leica EM TIC 3X:
Výrobce: | Leica |
Oblast použití: | Příprava materiálových vzorků |
Leica EM RES102 je unikátní systém umožňující přípravu vzorků pro TEM, SEM i Světelnou mikroskopii v jednom přístroji. Slouží k ztenčování, čištění vzorků z FIB, leštění a řezání vzorků bez vytváření artefaktů na jeho povrchu. Rozmanitost držáků vzorků umožňuje použít systém v širokém spektru aplikací. Vysokoenergetická iontová děla lze také použít k jemnému opracování vzorků za použití nízkých energií. Plně automatizovaný systém vytváří kvalitní a reprodukovatelné výsledky. Teplocitlivé vzorky lze chladit pro zachování jejich integrity. Pro snadné používání systém obsahuje integrovanou knižnici aplikací a řadu videí pro pomoc s pravidelnou údržbou a obsluhou.
Specifikace Leica EM RES102:
Výrobce: | Leica |
Oblast použití: | Příprava materiálových vzorků |
Naši dodavatelé:
© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika | Napsali o nás