Přístroje
Příprava materiálů pomocí iontového svazku
Iontové odprašování pevných materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy Leica EM TIC 3X
Pro dosáhnutí vysoké kvality řezů tvrdých materiálů bez deformací povrchu pozorované plochy slouží Leica EM TIC 3X. Systém s trojicí iontových děl je určen k přípravě tvrdých, porézních, teplocitlivých, křehkých nebo různorodých materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy (EDS, WDS, Auger, EBSD). Unikátní systém s trojicí iontových děl umožňuje zkrátit dobu přípravy vzorku a dosáhnout hlouběji do vzorku. Přístroj lze nakonfigurovat pomocí velkého množství držáků vzorků přesně dle požadavků dané aplikace. Systém dále umožňuje kontrastování a použití chlazeného stolku.
Specifikace Leica EM TIC 3X:
- Velmi velká oblast a rychlost odprašování
- Urychlovací napětí 1 – 10 kV
- Životnost iontových zdrojů 350 hodin
- Bez nutnosti kalibrování iontových zdrojů
- Vhodné pro široké spektrum materiálů a vhodné pro analýzy EDS, WDS, Auger, EBSD
- Bez nutnosti předchozího mechanického leštění
- Držák vzorků až 50x50x10mm
- Možnost kontrastování vzorku
- Chlazený stolek, teplota masky až -150°C
- Možnost karuselového stolku pro více vzorků
- Procesorem řízená automatická funkce
- Možnost nastavení každého iontového zdroje samostatně
- Vysokorozlišovací stereomikroskop s možností kamery
- LED osvětlení
- Integrovaná membránová a turbomolekulární pumpa
- Možnost připojení kryotransportu VCT100
| Výrobce: | Leica |
| Oblast použití: | Příprava materiálových vzorků |
Příprava vzorků pro TEM, SEM i Světelnou mikroskopii Iontovým odprašováním Leica EM RES102
Leica EM RES102 je unikátní systém umožňující přípravu vzorků pro TEM, SEM i Světelnou mikroskopii v jednom přístroji. Slouží k ztenčování, čištění vzorků z FIB, leštění a řezání vzorků bez vytváření artefaktů na jeho povrchu. Rozmanitost držáků vzorků umožňuje použít systém v širokém spektru aplikací. Vysokoenergetická iontová děla lze také použít k jemnému opracování vzorků za použití nízkých energií. Plně automatizovaný systém vytváří kvalitní a reprodukovatelné výsledky. Teplocitlivé vzorky lze chladit pro zachování jejich integrity. Pro snadné používání systém obsahuje integrovanou knižnici aplikací a řadu videí pro pomoc s pravidelnou údržbou a obsluhou.
Specifikace Leica EM RES102:
- Univerzální zařízení pro ztenčování, leštění, řezání, čištění vzorků z FIB pro SEM a TEM aplikace
- Integrovaná membránová a turbomolekulární vývěva pro dosažení vysokého vakua
- Load lock systém pro rychlou výměnu vzorku se zachováním vakua
- Variabilní energie iontových děl
- Opracování vzorku v úhlu od 0° do 90°
- Plně počítačově kontrolovaný systém se vzdáleným ovládáním pomocí LAN
- Dotykový display
- Plně motorizovaná iontová děla
- Velká oblast opracování pro SEM
- Motorizované čištění vzorků z FIB
- Možnost vytváření a ukládání protokolů přípravy vzorku
- Automatické zastavení procesu až dosáhne vzorek pro TEM elektronové transparentnosti
- Integrované videa s návodem
- Integrovaná CMOS kamera s manuálním zoomem
| Výrobce: | Leica |
| Oblast použití: | Příprava materiálových vzorků |
