Nový multimodální zdroj Ar iontů (GCIS) je optimalizován pro hloubkové profilování organických materiálů v režimu Arn+ klusterů a také pro anorganické materiály v režimu monoatomárních iontů Ar+, navíc však může generovat nízkoenergetický tok He+ iontů pro spektroskopii iontového rozptylu (ISS).
Výrobce: | Kratos Analytical |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Nová varianta AXIS Nova kombinuje XPS zobrazování a spektroskopické schopnosti s vysoce automatizovanou manipulac ítakéI s rozměrnými vzorky. AXIS Nova je zkonstruován na osvědčeném principu XPS spektrometrů řady AXIS firmy Kratos, obsahujícím m.j.: magnetické a elektrostatické transferové čočky, koaxiální neutralizaci náboje jen pomocí elektronů, analyzátor na bázi sferického zrcadla a hemisférický energiový analyzátor elektronů. Kratos vyvinul inovace jako jsou spektroskopický detektor se zpožďovacím liniovým načítáním a vysoce energetické RTG budící zdroje, použité v přístroji AXIS Nova a AXIS Supra schopné vyhovět většině náročných požadavků pro vědu a výzkum.
Výrobce: | Kratos Analytical |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
FlexSEM 1000 II VP-SEM kombinuje inovativní technologické funkce s intuitivním rozhraním a poskytuje přizpůsobivost a flexibilitu ve výkonném, automatizovaném balíčku vhodném pro laboratoře. Špičková technologie poskytuje bezkonkurenční zobrazovací výkon, a to i při pozorování za sníženého vakua, což je funkce, která byla dříve dostupná pouze v mikroskopech plné velikosti. Tento mikroskop nabízí ekonomický analytický nástroj bez kompromisů ve výkonu.
FlexSEM změní váš pohled na elektronovou mikroskopii!
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Zcela nový M6 firmy ION-TOF
SIMS technologie o jeden krok vpřed
M6 je poslední generací TOF-SIMS přístrojů (Time-Off-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) vyvinutou firmou ION-TOF. Konstrukce zaručuje špičkové výsledky ve všech aplikacích SIMS. Zcela nový druh iontového svazku a technologie hmotového analyzátoru tvoří z M6 referenční značku přístrojů SIMS a ideální nástroj pro průmyslový a akademický výzkum.
Aplikace: https://www.iontof.com/applications-tof-sims-leis-spm.html
Nový TOF analyzátor
Revolučně nová konstrukce extrakční optiky, transferu iontů a detekčního systému poskytuje dosažení nové úrovně hmotového rozlišení, přesnosti stanovení hmoty a transmise
TOF MS/MS
Ve variantě M6 s ToF MS/MS se nabízí ekonomické řešení MS/MS s CID fragmentací pro určení molekulární struktury. Ideálně vhodné pro rychlou konfirmaci předpokládaných kontaminantů nebo složení a pro rychlé MS/MS zobrazování lze použít pro aplikace hloubkového profilování.
Nanoprobe 50 - Benchmark in ion beam technology
Poslední generace Bi zdroje dosahuje nejvyšších proudů svazku a garantované špičkové laterální rozlišení 50 nm.
Hloubkové profilování duálním svazkem
Pro vrstvy od několika nm až do několika µm se doplňuje vysokovýkonné iontové dělo pro odprašování pomocí O2 a Cs.
Focused Ion Beam (FIB)
Rozšíření o FIB uživateli dovoluje překomat omezení klasického hloubkového profilování i pro velmi drsné a porézní vzorky kombinací FIB s vysokým laterálním rozlišením ToF-SIMS zobrazování.
Další technické novinky:
Hmotové rozlišení > 30,000,
Nesrovnatelný dynamický rozsah a detekční limity,
Nový systém ohřevu a ochlazování vzorku se snadným ovládáním pro dlouhodobý provoz bez zásahu obsluhy,
Sofistikovaný software SurfaceLab 7 s plnou integrací multivariantní statistické analýzy (MVSA)
Výrobce: | ionTof |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Vysoce výkonný TOF-SIMS v kombinaci se SIMS Orbitrap je přístroj ideálně vhodný pro organické vzorky
Výrobce: | ionTof |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Platforma špičkového SIMS typu M6 je kombinována s vysokovakuovým SPM (Scanning Probe Microscope)
Výrobce: | ionTof |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
GD-Profiler 2 umožňuje rychlou a simultánní analýzu všech prvků včetně plynů dusíku, kyslíku, vodíku a chloru. Jedná se o ideální nástroj pro tenké vrstvy a procesní studie. Je vybaven radiofrekvenčním zdrojem, který může pracovat v pulsním režimu pro křehké vzorky výboje. Rozsah aplikací GD-Profiler 2 je od korozních studií až procesní kontrolu PVD povlaků. Používá se na vysokých školách, stejně jako v běžných závodech na výrobu kovů a slitin pro analýzu povrchu, hloubkovou profilovou analýzu a pro objemovou analýzu elektricky vodivých i nevodivých vzorků a vrstev.
GD-Profiler HR poskytuje optimum z hlediska rozlišení a počtů prvků při řešení analytických problémů i v těch nejsložitějších maticích pomocí vysokého rozlišení simultánní optiky s 1 m ohniskové vzdálenosti.
GD-OES/ MS(Glow -Discharge Optical Emission SPectrophotometer/ Mass Spectrometer
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Tento nový přístroj kombinuje rychlost GD plasmového odprašování s rychlostí a citlivostí Time of Flight Spektometru. Plasma profilování TOFMS nabízí vyšší citlivost než GD OES a poskytuje izotopové a molekulární profily. Z vodivých anebo nevodivých tenkých nebo silných vrstev ve škále nanometrů umožňuje přímé simultánní kvantitativní měření všech prvků, izotopů a sloučenin v jakékoliv hloubce.
GD-OES/ MS(Glow -Discharge Optical Emission SPectrophotometer/ Mass Spectrometer
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Povrchově extrémně citlivý přístroj metodou LEIS ( Low Energy Ion Scattering) poskytující unikátní a kvantitativní analýzu svrchní atomární vrstvy. Možnost integrace do ALD a MBE systémů.
Výrobce: | ionTof |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Vysoce výkonný plně automatizovaný nástroj pro label-free analýzu biomolekul v komplexním formátu. Formát umožňuje sledovat až několik stovek interakcí současně pro urychlení výzkumu. Optimalizovaný fluidní systém je navržen pro rychlou analýzu kinetických profilů během několika minut. EzPlex je poháněn EzSuite, novou softwarovou sadou pro jednoduché použití a pokročilou analýzu dat.
Parametry
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
OpenPlex nabízí jednoduché operace s efektivními náklady, vysokou univerzálnost a stabilitu pro urychlení vašeho výzkumu. Jedná se o kombinaci zobrazování SPR pro multiplexní experimenty s otevřenou univerzální konfigurací. OpenPlex je ideální řešení pro vývoj label-free analýzy, multiplexních biotestů a biomolekulové detekce. OpenPlex používá SPRi pro sledování molekulových vazeb v reálném čase na více místech nacházející se na snímacím čipu.
Tři různé konfigurace průtoku buněk bez koncese:
Parametry
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
SPRi-Continuous Flow MicrospotterTM (SPRi-CFM)
SPRi-CFM je automatický dávkovač, který se používá pro plynulé ukládání dávek molekul. Vzorky kolují po povrchu, kde jsou zachyceny z roztoku, což vede k větší hustotě biomolekuly, lepší jednotnosti nanášeného místa a lepší citlivosti testu.
Parametry
SPRi-Arrayer
SPRi-Arrayer je automatické, kompaktní a přenosné zařízení. Nanáší DNA, oligonukleotidy, proteiny, bakteriální klony a jiné materiály s nízkým cross znečištěním pomocí inox (vhodné pro elektro polymeraci) nebo natáhnutí kov-keramika kapilárních pinů.
Parametry
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Budoucnost stolních mikroskopů je tady!
Řada TM4000 obsahuje inovace a špičkové technologie, které nově definují možnosti stolního elektronového mikroskopu. Tato nová generace dlouholeté řady stolních elektronových mikroskopů Hitachi (TM) integruje snadné použití, optimalizované zobrazování a vysokou kvalitu obrazu při zachování kompaktního designu osvědčených produktů řady Hitachi TM. Zažijte novou dimenzi stolních mikroskopů s Hitachi TM4000 II a TM4000Plus II.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
V provozu prověřený a ekonomicky efektivní SIMS přístroj parametry stále překonávající řadu soupeřů
Výrobce: | ionTof |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Vysokovakuový SPM vyráběný divizí NanoScan ve Švýcarsku, s možností analýzy i ve vzduchu
parametricky: skaner v uzavřené smyčce X/Y 80 µm, Z 10 µm, 20-bitový kontroler stolku skaneru s rozlišením pod 1 nm, stolek pro vzorek 100x 100 x 15 mm3, 4-kvadrantový detekční systém pro ohyb kantileveru, kompatibilita se všemi komerčními kantilevery, až 2 nezávislá PLL, proměnlivé kolmé a rovinné mag. pole až 550 +/-mT, 3 úrovně pasivní antivibrační ochrany
option: aktivní ochrana
režimy: kontaktní, nekontaktní, LFM, tapping, MFM, EFM, KPM, amplidová a fázová modulace, FDM, surface profiler
Výrobce: | ionTof |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
SU8700 přináší do tradiční řady mikroskopů Hitachi EM novou éru Schottkyho autoemisních rastrovacích elektronových mikroskopů s ultravysokým rozlišením. Tato revoluční platforma FESEM nabízí mnoho možností snímání, vysoký proud svazku elektronů, automatizaci, efektivní pracovní postupy pro uživatele všech úrovní, zkušeností a mnoho dalších inovativních řešení.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Výrazné zlepšení parametrů nejužívanějšího XPS na světě
Ke stovkám jiných přístrojů řady AXIS , instalovaných ve světě, přichází nová varianta, AXIS Supra Plus.
AXIS Supra+ je vybaven na rozdíl od mnoha jiných XPS spektrometrů kompletní automatizací také díky plně počítačem ovládané manipulaci se vzorky a nastavováním parametrů přístroje. Transfer vzorků bez nutnosti zásahu obsluhy a jejich výměna během analýzy jsou dosaženy koordinací funkcí přechodového zásobníku na vzorky Flexi-lock a automatickým stolkem v UHV analytické komoře přístroje.
ESCApe integrovaný akviziční a procesní software garantuje využívání přístroje AXIS Supra+ na maximum jeho možností a poskytuje snadné komunikační rozhraní se spektrometrem.
Výrobce: | Kratos Analytical |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Naši dodavatelé:
© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika | Napsali o nás