Propojení AFM-Ramanských systémů a TERS metoda (hrotem AFM zesílená Ramanská spektrometrie)
Ramanská mikroskopie se stala jedním ze základních nástrojů analýzy materiálů na mikrometrické úrovni a dokonce i na úrovni submikrometrické. Zkušenost firmy HORIBA Scientific v oboru optické a mechanické konstrukce vědeckých přístrojů zaručuje, že kombinované přístroje HORIBA Scientific (Ramanská část) a AIST-NT (AFM systémy) dosahují optimálního prostorového rozlišení a to na společné hardwarové a softwarové platformě.
TERS výhodně využívá jevu povrchové plazmonové rezonance, dipólů a chemické rezonance při použití speciálních kovových povlaků na hrotu SPM sondy, kdy se výrazně zesílí signál Ramanského rozptylu z blízkého pole přímo pod sondou. Tento zesílený signál blízkého pole se pak snímá společně se signálem vzdáleného pole, který lze oddělit pomocí různých metod, a tak je možné generovat Ramanský profil v nanometrických rozměrech nebo obrazy povrchu.
Optické propojení systému SPM/AFM závisí v zásadě na konfiguraci SPM a účelu jeho použití. Systémy SPM určené pro biologické aplikace se obvykle umísťují na inverzní mikroskopy, zatímco propojení s SPM systémy pro neprůhledné vzorky závisí na druhu optického přístupu SPM ke vzorku.
Často je možné horní osvětlení a je mu dávána přednost pro kolokalizovaná měření. Stín raménka hrotu (cantilever) však omezuje použití TERS pro průhledné vzorky nebo pro hroty s větší délkou. Preferováno je pak stranové (šikmé) osvětlení pro použití standardních hrotů s kovovým povlakem.
HORIBA Scientific nabízí AFM propojení shora, zespodu i ze strany a to jak pro vědecký Ramanský mikroskop Labram, pracující s velkým spektrálním rozlišením, tak i pro mnohem kompaktnější přístroj XploRA a to jak pro verzi se standardním mikroskopem, tak i pro inverzní mikroskop. Nyní nejpropracovanější verzí spojení Raman/AFM představuje platforma TRIOS vyvinutá společně firmami HORIBA Scientific a AIST-NT (výrobce AFM), použitelná pro oba zmíněné Ramanské mikroskopy. Tato platforma pracuje se všemi třemi zmíněnými optickými přístupy ke vzorku, navíc pak je softwarově plně integrován systém Ramanského mikroskopu i AFM.
Kolokalizovaná měření optická a SPM
Integrace hardware a software obou systémů do společné platformy umožňuje rychlou a uživatelsky přátelskou obsluhu obou zařízení současně.
Navíc pak propojení AFM/Raman neomezuje individuální režimy provozu obou zařízení, takže pro SPM zůstávají k dispozici zobrazovací režimy jako EFM, MFM, atd. Ramanský mikroskop je plně funkční a lze jej použít pro mikro- i makroměření, bez omezení konstrukce AFM. Při kolokalizovaných měřeních pomocí kombinovaného systému má uživatel přímý přístup k nanometrické informaci o vzorku, poskytnuté o vzorku SPM systémem, a současně chemickou informaci z mikro-Ramanského měření a to ze stejného místa vzorku.
Uhlíkové nanotrubice a grafen
Typickou oblastí aplikace jsou materiály na bázi uhlíku, kdy kolokalizované zobrazení umožní detekci jednostěnných uhlíkových nanotrubic na ploše o několik řádů větší, než jsou jejich rozměry a to díky charakterizaci různých Ramanských pásů. Jiným typem materiálu, o který je v poslední době zájem je grafen, a to jak jeho jednovrstvé, tak vícevrstvé struktury. Na obr. 4 a 5 lze porovnat topografickou strukturu vzorku grafenu, zatímco Ramanský obraz zobrazuje v barevném odlišení různé druhy grafenu podle počtu vrstev jejich struktury.
Polymery
Studium polymerů může rovněž efektivně využít doplňkových informací pomocí kolokalizovaných měření Raman/AFM. V řezu vrstevnaté struktury polymeru na bázi polystyrenu/polypropylenu je plocha 40µm x 40µm skenována pomocí AFM. Topografický obraz 6a poskytuje informaci o povrchu vzorku s vysokým rozlišením a je obtížné od sebe odlišit dva typy polymerů. Obr. 6b zobrazuje modul pružnosti a tedy informaci o elasticitě a tuhosti polymerů, je dosaženo dobrého kontrastu pro rozlišení dvou složek polymeru. Obr. 6 c v Ramanském zobrazení potvrzuje lokalizaci různých polymerů a poskytuje rovněž chemické složení, umožňující jejich identifikaci: červená oblast odpovídá polypropylenu, zelená oblast polystyrenu. To perfektně odpovídá informaci z obr. 6b o modulu pružnosti pro oba typy polymerů.
Hrotem zesílený Ramanský rozptyl (TERS)
Metoda povrchově zesíleného Ramanského rozptylu (SERS) byla dlouho využívána pro zesílení jinak slabých Ramanských signálů s využitím efektu povrchové plazmonové rezonance a chemické rezonance, s použitím koloidů s nanočásticemi nebo drsných kovových substrátů. Tak byla umožněna detekce chemických druhů na úrovni ppm.
Jev TERS je založen na podobném principu, ale využívá hrot AFM s kovovým povlakem (nebo jedné nanočástice upevněné na hrot) a tak vytváří dipolovou anténu zesilující Ramanský signál pocházející z oblasti vzorku pod koncem hrotu (blízké pole). I když jevu TERS ještě není zcela porozuměno, vyvolává velký zájem, neboť slibuje vytváření obrazů chemického složení s nanometrickým rozlišením.
Pro metodu TERS jsou k dispozici různé typy optických propojení, které z přístrojů Labram a XploRA firmy HORIBA Scientific ve spojení s AFM firmy AIST-NT tvoří kombinovaný nástroj na společné hardwarové i softwarové platformě pro různé aplikace. Kromě možnosti společné činnosti Raman/ AFM jsou pro samostatné přístroje, tedy Ramanský mikroskop i AFM, zachovány jejich jedinečné funkčnosti. Rovněž byly vyvinuty specifické metody na optimalizaci nastavení polohy hrotu vůči laserovému svazku a tím maximalizaci kapacity měření.
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
SU5000 Univerzální Schottky FE-SEM Hitachi se snadnou obsluhou
SU5000 je nový univerzální autoemisní Schottky SEM ideálně vhodný pro širokou škálu aplikací zobrazování a analýzy.
25 let know-how firmy Hitachi se SEM je zúročeno v SU5000 tak, aby SEM rychle a snadno poskytl nejlepší možné výsledky při vysokém zvětšení, nezávisle na úrovni zkušeností obsluhy.
SU5000 Parametry a funkce
Jak zobrazování při vysokém zvětšení, tak ultra rychlá analýza, jsou dosahovány pomocí nově vyvinutého Schottkyho elektronového děla, poskytujícího stabilní a jemně zaostřenou sondu s proudy od 1pA up do >200nA.
Díky nové superkonické objektivové čočce SU5000 nedochází k průniku rozptýlených magnetických polí do vzorku a tak lze rutinně pozorovat i magnetické vzorky. Tato konstrukce čočky zaručuje použití analytických technik jako EDX, EBSD, WDX atd. a to při krátkých pracovních vzdálenostech.
Zobrazování s vysokým rozlišením je zlepšeno funkcí zpomalení elektronového svazku, s dopadovými energiemi až 100eV. SE rozlišení 2nm při 1kV se dosahuje běžně. Simultánní použití vysoce citlivého in-column SE detektoru a unikátního 5 segmentového BSE detektoru je otázkou kliknutí.
Nevodivé a dokonce vlhké či olejné vzorky se pozorují v režimu VP-SEM (variabilní tlak v komoře). Komora pro vzorky se tlakuje mezi 10 a 300Pa pouhým kliknutím myši.
Tubus a vakuový systém jsou navrženy optimalizovaně pro režim VP:
Flexibilní konstrukce vysouvacího stolku pro vzorky SU5000 umožňuje rychlou záměnu vzorků o průměru až 200mm a výšce 80mm. Přímým a pohodlným přístupem ke komoře a vzorku, včetně záměny příslušenství pro upevnění vzorku se jejich výměna urychlí. Speciální stolky pro ohřev, chlazení, tahové či tlakové experimenty, použití mikromanipulátorů apod. jsou také k dispozici.
Revoluční ovládání SEM: EM Wizard
SU5000 nabízí vysokou výkonnost - a to pro každého! EM Wizard je skutečně inovativní koncepce ovládání: namísto toho, aby si obsluha sama musela vybírat celou řadu parametrů nastavení, jako energii svazku, proud, výběr detektoru, nastavení tubusu a stigmatizmu, EM Wizard si jednoduše vyžádá od operátora, jaký typ informace o vzorku potřebuje. Pak se automaticky nastaví parametry zobrazení. Plně automatické nastavení tubusu a stigmatizmu, vycházející z 25-letých zkušeností Hitachi u plně automatizovaných systémů CD-SEM, je vestavěno do tohoto unikátního software a eliminují problém s výsledky závislými na operátorovi. Manuální ovládání je samozřejmě také k dispozici pro ty, kteří si sami chtějí nastavit parametry.
Navigace na vzorku a výběr požadované perspektivy zobrazení nebyl nikdy snazší. Hitachi's Nový systém výběru zobrazení firmy Hitachi, 3D-MultiFinder, kombinuje importované optické obrazy do komplexní funkce 3D navigace. Stačí si jen vybrat, jak se na vzorek chcete podívat, a SEM bude vaše přání následovat.
Pomocí funkce EM Wizard mohou začátečníci získat výsledky jako experti.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Unikátní 200 kV TEM/STEM s korekcí aberace = dokonalá harmonie rozlišení obrazu a analytického výkonu.
Prostorové rozlišení 0,078 nm ve STEM je dosaženo společně s vysokou schopností naklánění vzorku a EDX detektory s velkým prostorovým úhlem, to vše v konfiguraci s jedinou objektivovou čočkou.
HF5000 staví na funkcích specializovaného STEM Hitachi HD-2700 včetně vlastního plně automatizovaného korektoru aberací Hitachi, symetrického duálního SDD EDX a Cs-korigovaného SE zobrazování. Zahrnuje také pokročilé technologie TEM/STEM vyvinuté v řadě HF. Integrace těchto nashromážděných technologií do nové platformy 200 kV TEM/STEM vede k přístroji s optimální kombinací sub-Å zobrazování a analýzy, stejně jako flexibilitu a jedinečné schopnosti pro řešení nejpokročilejších studií.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Elektronová mikrosonda SXFive / Five FE představuje již pátou generaci EPMA firmy Cameca. Hlavním záměrem je vytvořit plně digitalizovaný přístroj s vysoce integrovanou elektronikou a plnou automatizací pro běžné i mimořádné analytické úkoly. Komfort a jednoduchost obsluhy jsou docíleny pomocí účelově navržené klávesnice a ergonomicky navrženého uživatelského rozhraní ovládacího software.
Tradice a vynikající analytické parametry a samozřejmě i spolehlivost a vysoká přesnost, jsou charakteristické pro analyzátory WDS firmy Cameca (vlnově disperzní spektrometry), používané na SX Five / Five FE.
Hlavní aplikace nalézá SX Five/Five FE v geochemii, mineralogii, fyzikální metalurgii, jaderné metalurgii, materiálových vědách v oboru skla, keramiky, supravodičů, cementu, mikroelektronice, biochemii apod.
Mezi charakteristické prvky posledních vylepšení a inovací patří:
Výrobce: | |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
FlexSEM 1000 II VP-SEM kombinuje inovativní technologické funkce s intuitivním rozhraním a poskytuje přizpůsobivost a flexibilitu ve výkonném, automatizovaném balíčku vhodném pro laboratoře. Špičková technologie poskytuje bezkonkurenční zobrazovací výkon, a to i při pozorování za sníženého vakua, což je funkce, která byla dříve dostupná pouze v mikroskopech plné velikosti. Tento mikroskop nabízí ekonomický analytický nástroj bez kompromisů ve výkonu.
FlexSEM změní váš pohled na elektronovou mikroskopii!
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Inovativní Leica EM Cryo CLEM optický fluorescenční mikroskop Leica DM6000 FS představuje řešení pro analýzu zmražených vzorků ve světelném a elektronovém mikroskopu. Mikroskop zahrnuje kryo stolek a kryotransportní zařízení. Objektiv pro Leica EM Cryo CLEM s nízkou pracovní vzdáleností (
Specifikace:
Výrobce: | Leica |
Oblast použití: | Příprava biologických vzorků |
Analytický Ramanův mikroskop s vysokým spektrálním rozlišením určený pro maximální výkon a flexibilitu. Zahrnuje plnou automatizaci a širokou škálu příslušenství. LabRAM HR Evolution je ideální jak pro mikro, tak i pro makro měření a nabízí pokročilé konfokální zobrazovací schopnosti ve 2D a 3D. Pravá konfokální mikroskopie umožňuje analýzu s rychlostí a velkou přesností. S garantovaným vysokým výkonem a intuitivní jednoduchostí je LabRAM HR Evolution dokonalým nástrojem pro Ramanovu spektroskopii. Je široce používán pro standartní Ramanovy analýzy, fotoluminiscenci, TERS a další hybridní metody.
Vlastnosti:
Parametry:
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
FE-SEM kombinující nepřekonatelné možnosti zobrazení s prvkovou analýzou a vysokou účinností .
Tato nová řada FESEM je tvořena 4 modely: Regulus8100, Regulus8220, Regulus8230 a Regulus8240, z nichž všechny rozšiřují svými parametry a příslušenstvím předchozí řadu Hitachi SU8200, se společnou základní konstrukcí.
S nově optimalizovaným elektronově-optickým systémem, dosahuje Regulus rozlišení 0.7 nm u modelů Regulus8220/8230/8240 a 0.8 nm u Regulus8100 .
Je zde použito nové studenoemisní dělo (CFE) optimalizované pro vysoce rezoluční zobrazování při velmi nízkých urychlovacích napětích. Toto CFE dělo umožňuje dosáhnout zvětšení až 2 million-krát, ve srovnání s předchozími modely.
Uživatelské funkce byly rovněž modernizovány, takže špičkových parametrů přístrojů Regulus lze dosáhnout méně zkušenou obsluhou, např. pomocí asistovaných metod pro funkce detekčního systému elektronů s cílem analyzovat různé druhy materiálů, ale také pro diagnostické a údržbové funkce.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Více informací na stránkách výrobce
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Výkon a moderní technologie na flexibilní platformě
Skenovací elektronové mikroskopy Hitachi High-Tech SU3800 a SU3900 nabízí spolehlivý výkon a velkou flexibilitu možných rozšíření. Operátor může automatizovat mnoho operací a efektivně využívat jejich vysoký výkon. SU3900 je vybaven velkou víceúčelovou komorou pro pozorování velkých vzorků. Intuitivní uživatelské rozhraní nabízí příjemné pracovní prostředí jak pro začínající, tak pro expertní uživatele.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Budoucnost stolních mikroskopů je tady!
Řada TM4000 obsahuje inovace a špičkové technologie, které nově definují možnosti stolního elektronového mikroskopu. Tato nová generace dlouholeté řady stolních elektronových mikroskopů Hitachi (TM) integruje snadné použití, optimalizované zobrazování a vysokou kvalitu obrazu při zachování kompaktního designu osvědčených produktů řady Hitachi TM. Zažijte novou dimenzi stolních mikroskopů s Hitachi TM4000 II a TM4000Plus II.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Přístroje pro studium povrchů a prvkovou analýzu |
Moderní FE-SEM má poskytovat nejen špičkové parametry, ale také řadu dalších funkcí, např. pozorování velké plochy, in-situ analytické schopnosti, nastavení tlaku v komoře, zobrazení s vysokým rozlišením při nízkém urychlovacím napětí a simultánní snímání více obrazů.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Nová řada TEM 7800 používá unikátní a společností Hitachi patentovanou objektivovou čočku s duálním režimem (Dual-Gap Objective Lens) společně s technicky pokrokovou elektronovou optikou. Tak je umožněno vysoce parametrické zobrazování při malém zvětšení, vysokém kontrastu, velkém zorném poli i při velkém zvětšení. Zvláště pak verze HT7830 obsahuje speciální konfiguraci čoček s ultra vysokým rozlišením, poskytujícím ve své třídě nejlepší parametry pro zobrazení s vysokým rozlišením.
Jednoduchá obsluha s vysokou průchodností vzorků u tohoto přístroje je dána i použitím nového uživatelského rozhraní s inovativní funkcí vizualizace a navigace po celé ploše standardní TEM síťky. Nově vyvinutá funkce Image Navigation umožňuje intuitivní a zlepšenou funkčnost práce se vzorkem, včetně schopnosti automatického záznamu obrazů a uživatelem definovaných lokalit pomocí celkového přehledového obrazu.
Hlavní funkčnosti:
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Ramanův spektrometr s trojitým monochromátorem, ultra vysokým spektrálním rozlišením a laditelnou laserovou filtrací. Systém T64000 je navržen tak, že poskytuje univerzální řešení pro Ramanovu analýzu.
Vlastnosti:
Parametry:
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Studená katoda je ideální pro zobrazování ve vysokém rozlišení s malou velikostí zdroje a uzkým energiovým spektrem. Inovativní technologie CFE Gun přispívá k dokonalému FE-SEM s vynikajícím jasem a stabilitou paprsku, což umožňuje zobrazování ve vysokém rozlišení a vysoce kvalitní analýzu prvků. Jedinečný design “true in-lens” objektivové čočky umožňuje provádění EELS a také difrakce.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
SU8600 přináší do tradiční řady mikroskopů Hitachi EM novou éru autoemisních rastrovacích elektronových mikroskopů se studenou katodou s ultravysokým rozlišením. Tato revoluční platforma FE-SEM nabízí mnoho možností snímání, vysoký proud svazku elektronů, automatizaci, efektivní pracovní postupy pro uživatele všech úrovní, zkušeností a mnoho dalších inovativních řešení.
Výrobce: | Hitachi |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
XploRA INV kombinuje automatizační prvky a malé rozměry standartního systému Ramanova mikroskopu XploRA s jedinečnými schopnostmi invertovaného mikroskopu zvláště pro biologické aplikace. Invertovaný mikroskop navíc umožňuje snadné připojení AFM jednotek a TERS pro zobrazení s nejlepším prostorovým rozlišením.
Vlastnosti:
Parametry:
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Začlenění jedinečných funkcí ve spolehlivém výkonném systému zajišťuje modelu XploRA PLUS ideální systém pro výzkumné a analytické laboratoře. Je plně konfokální – bez kompromisů na kvalitě obrazu a s výborným prostorovým rozlišením. Pomocí SWIFT technologie dosáhneme nejrychlejšího plně konfokálního Ramanova systému, obvykle 10x rychlejší než běžné Ramanovy systémy. Jednoduchost a síla přístroje je spolu s velkým množstvím příslušenství nesrovnatelným Ramanovým systémem na trhu.
Vlastnosti:
Parametry:
Výrobce: | HORIBA Scientific |
Oblast použití: | Mikroskopická technika, analýza a vybavení pro zpracování obrazu |
Naši dodavatelé:
© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika | Napsali o nás