Přístroje

Vyhledávání

Hledaný výraz:

Systém Hitachi “MirrorCLEM” pro korelativní světelnou a elektronovou mikroskopii

Nový systém zjednodušuje korelativní zobrazování jednoho místa 

Hitachi High-Technologies Corporation a RIKEN, jeden z japonských národních institutů pro vědecký výzkum uveřejnili ukončení vývoje systému zjednodušujícího korelativní světelnou a elektronovou mikroskopii (CLEM) a jeho uvedení na trh.

CLEM techniky byly používány v posledních letech v různých aplikacích, od nanotechnologií, materiálů, medicínu až pobiovědy.Obtížným úkolem je však pozorování stejné oblasti vzorkupomocí mikroskopů světelných (např. fluorescenčních) a elektronových při různých zvětšeních a způsobech pozorování.

Nový “MirrorCLEM” využívá např. mikroskopický postup a techniku přípravy vzorků organely, zasazených do pryskyřice pro uchování jak zelenýchfluorescenčních proteinů, tak i její struktury a následné umístění do speciálního stojanu pro pozorování těchto řezů na krycím sklíčku ve FE-SEM. Součástí je i software pro rychlé a přesné pozorování stejného místa oběma mikroskopy.

Řezy vzorků lze sledovat pod světelným mikroskopem od malých zvětšení až do okamžiku, kdy je dostatečně patrná struktura oblasti zájmu. Stolek FE-SEM může být koordinovaně posunut do stejného místa při malém zvětšení, jaké bylo použito u světelného mikroskopu. Následně pak zorné pole (FOV) ve FE-SEM se může posunout do jakékoliv oblasti zájmu v obraze vzorku při malém zvětšení, získaného ze světelného mikroskopu a to při stejném zvětšení. Systém také dokáže překládat obrazy světelného mikroskopu a FE-SEM v reálném čase. Hitachi High-Tech nabízí “MirrorCLEM” jako option pro FE-SEM řady 8200 a může být připojen k celé řadě světelných mikroskopů.

Systém Hitachi  “MirrorCLEM” pro korelativní světelnou a elektronovou mikroskopii

Naši dodavatelé:

© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika   |   Napsali o nás