Přístroje

Vyhledávání

Hledaný výraz:

Iontové odprašování pevných materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy Leica EM TIC 3X

Pro dosáhnutí vysoké kvality řezů tvrdých materiálů bez deformací povrchu pozorované plochy slouží Leica EM TIC 3X. Systém s trojicí iontových děl je určen k přípravě tvrdých, porézních, teplocitlivých, křehkých nebo různorodých materiálů pro SEM, AFM a Mikrostrukturální analýzy (EDS, WDS, Auger, EBSD). Unikátní systém s trojicí iontových děl umožňuje zkrátit dobu přípravy vzorku a dosáhnout hlouběji do vzorku. Přístroj lze nakonfigurovat pomocí velkého množství držáků vzorků přesně dle požadavků dané aplikace. Systém dále umožňuje kontrastování a použití chlazeného stolku.         

Specifikace Leica EM TIC 3X:

  • Velmi velká oblast a rychlost odprašování
  • Urychlovací napětí 1 – 10 kV
  • Životnost iontových zdrojů 350 hodin
  • Bez nutnosti kalibrování iontových zdrojů
  • Vhodné pro široké spektrum materiálů a vhodné pro analýzy EDS, WDS, Auger, EBSD
  • Bez nutnosti předchozího mechanického leštění
  • Držák vzorků až 50x50x10mm
  • Možnost kontrastování vzorku
  • Chlazený stolek, teplota masky až -150°C
  • Možnost karuselového stolku pro více vzorků
  • Procesorem řízená automatická funkce
  • Možnost nastavení každého iontového zdroje samostatně
  • Vysokorozlišovací stereomikroskop s možností kamery
  • LED osvětlení
  • Integrovaná membránová a turbomolekulární pumpa
  • Možnost připojení kryotransportu VCT100

stránky výrobce

Naši dodavatelé:

© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika   |   Napsali o nás