Přístroje

Elektronová mikrosonda SXFive / Five FE

Elektronová mikrosonda SXFive / Five FE představuje již pátou generaci EPMA firmy Cameca. Hlavním záměrem je vytvořit plně digitalizovaný přístroj s vysoce integrovanou elektronikou a plnou automatizací pro běžné i mimořádné analytické úkoly. Komfort a jednoduchost obsluhy jsou docíleny pomocí účelově navržené klávesnice a ergonomicky navrženého uživatelského rozhraní ovládacího software.

Tradice a vynikající analytické parametry a samozřejmě i spolehlivost a vysoká přesnost, jsou charakteristické pro analyzátory WDS firmy Cameca (vlnově disperzní spektrometry), používané na SX Five / Five FE.

Hlavní aplikace nalézá SX Five/Five FE v geochemii, mineralogii, fyzikální metalurgii, jaderné metalurgii, materiálových vědách v oboru skla, keramiky, supravodičů, cementu, mikroelektronice, biochemii apod.

Mezi charakteristické prvky posledních vylepšení a inovací patří:

  • výběr až 5 EDS detektorů a jednoho EDS detektoru, pracujících paralelně
  • výběr vertikálních nebo pootočených WD detektorů pro leštěné, nebo drsné vzorky
  • spojitý zoom optického mikroskopu (od 250 µm do 1,7 mm širokého zorného pole)
  • software Peak Sight v prostředí Windows 7, se specializovanými moduly (reálné kvantitativní mapování, Geochronologie, Expert systém, analýza fází, vyhledávání částic atd.)
  • standardní wolframový zdroj elektronů
  • volitelný zdroj elektronů LaB6 s novým napájecím zdrojem a novou elektronovou kolonou s optimalizací pro EPMA (10keV / 0.2-0.3 µm) – možnost uživatelské záměny
  • nový autoemisní zdroj elektronů (FE) s Schottkyho katodou (2 iontové vývěvy)
  • vakuový systém s turbomolekulární vývěvou
  • stolek pro vzorek s krokem 0.1 µm
  • ultra jemné polohování svazku (100 nm dlouhodobě) se sledováním jeho polohy
  • nová videokamera pro aplikace s katodoluminiscencí
  • nové velkoplošné vysoce citlivé krystaly pro WDS s rychlejší analýzou a lepšími detekčními limity
  • zvýšený dynamický rozsah předzesilovače BSE detektoru pro měření při vysokém proudu el. svazku
  • režim multispektrometrického snímání dat (více WD spektrometry najednou) při stejné analytické čáře slouží k dosažení vyšší citlivosti pro stopové prvky  

stránky výrobce

Elektronová mikrosonda SXFive / Five FE

Naši dodavatelé:

© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika   |   Napsali o nás