Menu

Přístroje

XPS systém AXIS Supra

AXIS SupraTM kombinuje nejmodernější výkonnost XPS s bezkonkurenční automatizací a snadností obsluhy. Patentovaná technologie AXIS zajišťuje vysokou účinnost sběru elektronů v režimu spektroskopie a malé aberace v režimu velkého zvětšení a paralelního zobrazování. Výsledky spektroskopické XPS analýzy i zobrazení lze doplnit dalšími technikami povrchové analýzy jako např. ultrafialová fotoemisní spektroskopie (UPS), Schottkyho autoemisní rastrovací Augerova mikroskopie, (SAM), mikroskopie v sekundárních elektronech (SEM) a spektroskopie iontového rozptylu (ISS). AXIS Supra nahrazuje předchozí model AXIS Ultra DLD, tedy původní vlajkovou loď firmy Kratos v oboru XPS (ESCA) přístrojů.

stránky výrobce

XPS systém AXIS Supra

Zdroj plynných klusterů iontů Ar

Nový zdroj plynných klusterů iontů argonu (GCIS) je optimalizován pro hloubkové profilování organických materiálů v režimu klusterů iontů Arn+ a pro anorganické materiály pak využívá monoatomární režim Ar+. Podle provozních podmínek určených operátorem a podle typu materiálu lze v režimu klusterů iontů dosáhnout urychlovacího napětí až 20 keV. Tím je zaručeno úspěšné hloubkové profilování pomocí odprašování a to pro nejširší škálu polymerních materiálů. Pro anorganické materiály lze pak zdroj provozovat v režimu více vhodných monoatomárních iontů.

stránky výrobce

Zdroj plynných klusterů iontů Ar

Naši dodavatelé:

© 2014 Specion.cz - Laboratorní a zkušební technika   |   Napsali o nás